无机配标仪轻松解决光谱类仪器的背景干扰和物理干扰问题

  • 作者: 超级管理员
  • 时间: 2020-03-20 15:55:29
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干扰问题

我们在做环境类样品时,首先要配制标准曲线,用相应的标准曲线作为基准测定未知样品中的重金属含量。但由于样品溶液和标准曲线溶液有基质上的差别,往往导致我们的测定结果有所偏差。下面我们具体讨论一下偏差的来源:

1   例如火焰原子吸收和icp-oes等仪器,在雾化过程中,由于标准曲线溶液和未知样品消解溶液的表面张力不同,粘度不同,酸度差别等因素,会导致雾化的程度有差异。我们考虑这样一个模型:

假设一个小雾滴悬浮在空气中,

则有:mg重力=F浮力                 

P压强*s面积=p溶液密度*g重力加速度*v小液滴体积,其中P压强和g重力加速度是恒定的,v/s与形成的小雾滴的直径成比例,p溶液密度与样品基质有关。

其中当粘度变大时,导致雾化过程中更容易形成体积大的雾滴,v/s变大,液滴的重力大于浮力,雾滴更容易沉降下来,雾化效率降低。那么由于溶液的差异就会导致结果的偏差。

   

2   再比icp-oes仪器,它的定性根据是每种元素都有各自的光谱项,每一种元素理论上都有很多条谱线,理论上谱线是没有宽度的线光谱。又由于多普勒变宽,碰撞变宽,自然变宽等的存在,会产生背景光强,因此我们要扣除相应的背景。又由于不同基质的样品中含各种的元素含量有差异,进而使背景的大小有所不同,背景的不同最终导致结果的偏差。

 a1b1+a2b2+a3b3+……aibi+……

S代表:待测元素a的总背景, ai代表不同的元素的浓度值,bi代表ai元素对待测a的背景强调的贡献概率。

    公式中可以知道,标准曲线溶液和未知样品溶液的基质不同时,如硅,铁,氧,钛等元素含量的差异,会导致S背景的不同,导致测定结果的偏差。

 

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